HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

简要描述：HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪
型号XGT-9000
XGT-9000 样品仓可容纳各种样品，包括微型碎片、印刷电路板、硬币、薄片、粉末、液体、晶圆等，并根据需求提供样品架。

产品分类

详细介绍

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

XGT-9000

速度和灵活性兼备是微区 X 射线荧光光谱的发展方向

<15µm高强度X射线头，兼具高灵敏度和高空间分辨率

高分辨相机和多种照明模式成像

双检测器，荧光X射线检测器和透射X射线检测器

轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素

HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪

技术参数

型号	XGT-9000	XGT-9000SL
基本信息
仪器	微区X射线荧光分析仪
样品类型	固体、液体、颗粒
检测元素	轻元素检测器：C* – Am (常规检测器：F – Am)
样品仓尺寸	450(W) x 500(D) x 80(H)	1030(W) x 950(D) x 500(H)
样品尺寸	300(W) x 250(D) x 80(H)	500(W) x 500(D) x 500(H)
样品质量	1 kg	10 kg
光学观察	两个带物镜的高分辨率相机
光学设计	垂直同轴 X 射线和光学观察
样品照明/观察	顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率	50 W
电压	50 kV以下
电流	1 mA以内
靶材	Rh
X射线光光学系统
X射线头数量	多达配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片	5个位置
检测器
荧光X-射线检测器	硅漂移检测器（SDD）
透射X射线检测器	NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围	100 mm x 100 mm	350 mm x 350 mm
步进尺寸	2 mm	4 mm
Operating mode
样品环境	全真空/局部真空/大气环境/He吹扫（选配）	局部真空/大气环境/He吹扫（选配）*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。

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