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详细介绍
| 品牌 | HORIBA/堀场 |
|---|
HORIBA堀场X射线荧光分析仪
型号MESA-50K
为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。后续HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，后续MESA-50系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。
应用：
对涂层进行无损的厚度和成分分析、固体废物管理和修复服务中的固体废物燃烧器和焚化炉、电子行业的显微XRF 分析、铅污染的玩具分析
特点
1. 快速
硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2. 小巧
便携、体积小、重量轻
内部电池供电
3. 简单
减少日常维护工作（无需液氮）
无需真空泵
各种材料测量直观简单
4. 智能
英文/日文/中文多语言操作界面
Excel数据管理工具
5. 安全
无需担心 X 射线泄漏
HORIBA堀场X射线荧光分析仪
技术参数
基础项 | 原理 | 能量分散性X射线荧光光谱 |
目标应用 | RoHS, ELV, Halogen Free | |
测量元素 | 13Al - 92U | |
样品类型 | 固体, 液体, 粉末 | |
X-ray 发生器 | X-ray管 | 不超过50kV, 0.2mA |
X-ray辐射尺寸 | 1.2mm, 3mm, 7mm (自动切换) | |
X-ray初级过滤器 | 4 types (自动切换) | |
检测器 | 类型 | SDD (Silicon Drift Detector) |
信号处理器 | 数字脉冲处理器 | |
样品仓 | 大气环境 | 空气 |
样品观察 | CCD相机 | |
样品仓尺寸 | 460 x 360 x 150 mm [W x D x H] | |
应用 | 操作 | PC (Windows® 7) |
电源 | 100-240V, 50/60Hz | |
仪器尺寸 | 590 x 590 x 400 mm [W x D x H] | |
重量 | 60 kg | |
软件 | 分析功能 | 多层膜FPM法（可选） Sb/As分析（可选） |
＊Windows是微软公司的注册商标.
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