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HORIBA X射线荧光光谱仪
XGT-1000WR荧光光谱仪主要技术指标:
1、 分析元素:Si~U(Cd/Pb高精度型);Na~U(任选:φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型)
2、 检测精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 检测仓内部尺寸:不超过460×360 mm(高150 mm)
4、X射线照射径:φ1.2 mm(可选:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换)
5、 检测器:高纯硅检测器 XEROPHY
6、 设备重量:约 265 kg(不含桌子、计算机)
7、 外形尺寸:分析部分:610(W)×750(D)×500(H)mm
8、 信号处理部:220(W)×500(D)×480(H)mm
9、可同时测量4层金属镀层的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT(X射线导向管聚焦)技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量,确保了微区测量、快速测量、高精度测量。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。
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