产品中心
相关文章
详细介绍
COSMOS-1X型荧光X线镀层测厚仪（膜厚計）
●Windows下中文操作界面 各机型规格参数： 机型 手动测量台 测量主体 测量台尺寸（mm） 170＊110 移动量 X（mm） 70 Y（mm） 70 Z（mm） 50 测定物zui大高度（mm） 45（可调整） 尺寸（mm） 362（W）＊425（D）＊486（H） 重量（kg） 44.2 样品zui大何重（kg） 3 电源 AC100V±10V（option AC115V、AC230） 搭载MS-WINDOWS系统（*的操作性与高精度测定）与IBM PC个人电脑相容
●紧凑小巧，低成本
●解析度0.001μm
●zui小测量面积0.1mm?
●可测量合金层的厚度以及成分比例
●对于多层镀层可测量每一层精确厚度
●可通过X线进行元素光谱分析
●适用对象：IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业
仪器特点：
准值器5种孔径内藏式：
zui小的准值仪孔径仅
标准：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
0.05＊0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
小型化设计：占体积小，采购成本低，适用于小型工件。
*的显示功能：能显示测量具体位置，可将照片打印输出。
充实测量报告的作成功能：多种统计功能，轻松提供完善的测量报告。
自我诊断功能及X线管保养功能：让您时刻了解仪器使用情况，方便保养维护。
产品咨询
关注微信