X射线荧光分析仪

XGT-1700WR

分析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析元素

Si～U(Cd/Pb高精度型)
Na～U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型)

检出下限(Cd/Pd)

Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm

样品形状

zui大460×360 mm(高150 mm)

样品室气氛

大气

X射线管

靶材

Rh

管电压

zui大50 kV

管电流

zui大1 mA

X射线照射径

Φ3 mm
(同时搭载：φ1.2mm )

检测器

高纯硅检测器 XEROPHY

液氮罐容量

3升

液氮消耗量

每日1升以下(不开机时不用)

光学图像观察

倍率 50倍(X射线同轴)

软件

定性分析：自动定性或手动定性

定量分析：检量线法

照射直径3mm时
基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正

计算机

CPU

Pentium IV 1.8 GHz 以上

内存

1GB 以上

硬盘

120 GB 以上

OS

Windows XP

监视器

17寸 CRT(任选：17寸  LED)

打印机

彩色喷墨打印机

周围温度

10～35 ℃(性能温度)/ 5～40 ℃(动作温度)

周围湿度

5～31 ℃时温度范围：zui大相対湿度80 %以下
31～40 ℃时温度范围：相対湿度50 %以下

电源

AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz

消耗电力

1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机)

设备重量

约 265 kg(不含桌子、计算机)

外形尺寸

分析单元

610(W)×750(D)×500(H)mm

信号处理单元

220(W)×500(D)×480(H)mm